镀银层厚度的基本概念

镀银层厚度的基本概念

电镀性质决定镀层厚度不可能很均匀，边角处、折角处（国际上采用直径为19的球测量直径以外区域，国内用直径20的球测量直径以外区域）、深孔处等只需做到有镀层即可，不可能所有面、所有点都达到5μm以上，只能说主要面最小厚度尽量做到等于或者大于5μm，具体可参考相关电镀标准（国标或者ISO标准）。

1、镀层均匀性： 

所有电镀层的厚度都不会是均匀的，这是电镀的性质决定的。因为在同一个制件上，电流密度不可能做到均匀。

不管什么电镀都是厚度不均匀,只是相差的大与小的问题,如挂镀时,每挂最上面和下面的工件肯定会比中间的厚一些,滚镀的有时一些工件滚到一些死角的地方，厚度比那些滚的流畅的工件厚度要薄一些，那单个工件来说，边角部分的厚度比中间部位的厚度要厚，这是肯定的，虽然有些厂里做了工件高区的遮挡，以免电流增大，高区烧焦，也是为了低区的厚度提升，高区厚度降低，来提升整体的厚度均匀，但是还是不可能那么均匀。这所有这些现象都是一个原因，就是电镀产品电镀时的情况就像磁铁一样有一个磁力线原理，边角或尖端的电流线是密集的，中间肯定会比边缘的少的缘故。

2、电镀工艺缺陷：

工艺允许的缺陷是指由于电镀工艺的限制，在电镀加工过程中出现的不可克服的缺陷，在一定的范围内，不作为不合格的判定依据。工艺允许的缺陷往往是由于镀件结构复杂和电镀工艺技术的限制而难以完全消除的缺陷，比如深孔内可以允许一定孔深内没有镀层，或规定孔口向内的一定距离内有镀层即为合格等。但是工艺允许的缺陷以不损失产品的使用功能为前提，是在不影响产品性能前提下的让步接收。

3、镀层测量 GB12334 等效 ISO 2064

   (1) 适用范围 本国际标准定义了有关任何基体上的金属和其他非有机覆盖层厚度测量的术语。此外，还规定了一些测量覆盖层最小厚度所要遵循的通则。

  (2) 本国际标准采用以下定义 ①主要表面：工件上已涂覆或待涂覆的部分，对这部分而言，覆盖层对使用性能和/或外观都是至关重要的；并且这部分的覆盖层必须符合所有规定要求。②测量面：主要表面上作单个测量的区域。以下方法的“测量面”的相应定义为：

  (a)分析法的测量面为退除覆盖层的区域；

  (b)阳极溶解法的测量面为电解池封闭圈所包围的区域；

  (c)显微镜法的测量面为在规定放大倍数下的视野区域；

  (d)无损法的测量面为探头区域或影响读数的区域。

  ③参比面：要求作规定次数的单个测量的表面。

  ④局部厚度：在参比面内规定次数厚度测量的平均值。

  ⑤最小局部厚度：在单个工件的主要表面所测得的局部厚度的最小值。

  ⑥最da局部厚度：在单个工件的主要表面所测得的局部厚度的最da值。

  ⑦平均厚度：或者是采用分析法得到的值，或者是采用在主要表面上进行规定次数的局部厚度测量得到的平均值。

  (3) 局部厚度的测量 平均厚度测量通常在总表面积有限的小件上进行：

  ①主要表面小于1 cm2的试件 用于测量局部厚度的正常参比面应当是试件的全部主要表面。在此参比面内要作的单个测量次数，应由有关各方商定。在特殊情况下，可采取一些较小的参比面，但它们的尺寸、数量和位置应由各方商定。

  ②主要表面大于1 cm2的试件 局部厚度应在约为1 cm2的参比面内进行测量(在可能的情况下，是1 cm×1 cm的面积)。在此参比面内至多可取5个散布的测点(具体数取决于所用的测量方法)。实际要作的测量次数应由有关各方商定。

 ③显微镜法 采用ISO 1463规定的显微法测量时，至少应当沿规定的显微截面长度作5个散布点的测量。

 (4) 平均厚度的测量

 ①分析法：采用质量损失方法测量平均厚度时，选择的测量面应当足够大以便能用称重法准确测量质量损失。如果涂覆件的主要表面小于要求的最小测量面积，则应选择一定数量的单个试件以便能提供一次测量所要求的测量面积，而且测量结果应为平均厚度。如果涂覆件的主要表面的面积未明显超过要求的最小测量面积，则在该件上的一次测量应视为该件的平均厚度。至少应测量两个试件以证明测量精度。如果涂覆件的主要表面明显地超过要求的最小测量面积，则应在主要表面内分散作规定次数的重复测量，并分别记录测量结果。

② 其他方法：如果涂覆件的主要表面的面积没有明显超过测量局部厚度的参比面，则应当将局部厚度值作为平均厚度。如果涂覆件的主要表面的面积明显地超过测量局部厚度的参比面，则应当将散布于主要表面上的3～5个局部厚度测量值R 平均值作为平均厚度。